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FP（基本参数）算法是X射线荧光光谱分析的有效方法，能够在少标样甚至无标样的情况下对样品元素成分进行定性定量分析，也可以对镀层或镀膜厚度进行分析。
众所周知，X射线荧光分析最大问题是元素荧光强度会受到共存元素的影响（基体吸收和增强效应），与含量通常不是线性关系。基本参数法在光谱的计算过程中，已经考虑到了基体效应，可以得到计算含量与已知含量之间的线性关系，使用少数已知样品校正算法去除系统误差，即可达到精确定量的目的。
• 正向计算
1、利用X光管的结构参数、管流、管压等计算X射线管出射原级谱；
2、根据所采用的晶体衍射单色器（或滤光片）结构计算入射到样品的X射线谱分布；
3、入射到样品X射线与样品所含元素作用，计算各元素被激发所产生的荧光X射线；
4、样品出射荧光X射线进入探测器，根据探测器介质与探测器相应函数，计算最终探测器输出的能谱图；
• 反向迭代
1、测试未知样品，得到样品中元素荧光强度分布，根据解谱算法和初设各元素含量初始值，计算得到X射线能谱；
2、根据计算强度与实测强度的差别，计算含量调整量，得到各元素含量的新值，再计算得到新的X射线能谱；
3、反复重复步骤2，经过若干次迭代，当各元素的特征X射线的计算强度与实测强度差别小于某一个设定值时，迭代结束；
4、迭代结束，计算谱与实测谱基本重合，得到未知样品中元素含量的定量结果；
