一、应用概述
通常采用ICP MS、AA、XRF等分析仪器对空气滤膜无机元素含量分析,相比湿法消解,XRF方法具有样品处理简单、快速、无损等特点,且能够分析硅、磷、硫、氯等污染源表征性非金属元素,X射线荧光光谱法是标准分析方法之一,越来越多的分析工作者倾向采用X射线荧光光谱法分析空气滤膜中无机元素含量。
常规XRF需要大量标准样品建立标准曲线,这对于元素种类多、含量范围宽的PM2.5颗粒物相当困难,标准样品昂贵且难以获得,即使有标准样品,其在元素相关性和含量范围等方面也难以满足建立经验系数法的要求。
北京安科慧生研发的全息基本参数法(Holospec FP 2.0)在欠缺标准样品情况下,即可对空气滤膜进行无机元素定量分析,采用少数标准样品(或定值样品)即可对系统进行偏差校正和分析质控,达到空气滤膜中无机元素准确定量分析目的。
二、方法原理
• 单色化激发
全聚焦双曲面弯晶仅衍射X射线管出射谱中靶材高强特征射线,从而消除了入射谱中散射线背景干扰,将谱线背景值降低2个数量级;
• 聚焦激发