安科慧生发布最新研制的快速基本参数法
快速基本参数法提升XRF定量水平,拓展XRF应用领域,为XRF插上梦想的翅膀
北京安科慧生研发人员历时多年,成功研制快速基本参数法(Fast FP)。基本参数法是X射线荧光光谱定量的有效算法,其可有效解决XRF在元素定量分析中的基体差异、元素吸收增强效应、标准品欠缺等问题。
安科慧生具有自主知识产权的快速基本参数法,在背景扣除算法、软件运算速度、可视化、定量精确化等方面优化,同时支持用户应用开发,为各行业元素快速定量分析提供可靠的算法系统支撑。
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