-
• 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪原理
1) 单色化聚焦激发技术
微焦斑X射线管出射谱经过全聚焦型双曲面弯晶（Johansson type DCC）单色化衍射至样品点，实现点到点单色化高强度衍射，大幅降低X射线管出射谱中韧致辐射经样品后散射线背景干扰，提升元素检测灵敏度。
2) 高性能SDD探测器
单波长激发技术与SDD探测器是天作之合，SDD探测器的计数率和分辨率得以充分发挥，进一步提升样品中主量元素与微量元素同步检测能力。
• 单波长X射线荧光光谱仪MERAK-SC
能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）对轻元素分析能力不足，通常无法对样品中超轻元素（C、N、O、F、Na等）进行定量检测，除了轻元素荧光产额较低之外，另一个主要原因是X射线管出射谱中韧致辐射经样品后散射到探测器的连续背景干扰，使得轻元素的荧光信号被淹没，这点也是能量色散X射线荧光光谱仪主要逊色于波长色散X射线荧光光谱仪的地方。
单波长X射线荧光光谱仪MERAK-SC采用单色化聚集激发技术，大幅提升轻元素检测灵敏度，采用超薄石墨烯窗口硅漂移探测器，进一步提升轻元素通过率，使得分析超轻元素（O、F、Na等）丝毫不逊色大型WD XRF。
同时采用二次靶技术，实现样品中常量元素（K-Cu）的分析。
搭载全息基本参数法Holospec FP 2.0可以快速建立各类样品元素分析方法，提升样品适应性和定量准确度。
- • 轻元素低检出限
单波长X射线荧光光谱仪将元素分析范围延伸至超轻元素，譬如F元素检出限达到前所未有的0.15%水平；
• 元素分析范围
轻元素：O、F、Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl；
金属元素：K、Ca、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn;
• 可分析液体样品
专用于液体样品分析的样品杯；
• 上照式设计
避免由于样品表面灰尘、液体洒落等造成光路污染或者昂贵探测器的损坏；
• 自旋装置
软件控制自旋装置的开启，提高不均匀样品的检测精度；
• 温度控制
环境适应温度范围24±3℃，控温精度±0.3℃；
• 搭载快速基本参数法
强大的Holospec FP 2.0软件，可视化操作界面，支持各类样品的应用开发；
- • 原理：单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪
强大的Holospec FP 2.0软件，可视化操作界面，支持各类样品的应用开发；
• 元素分析范围
轻元素：F-Cl
金属元素：K-Zn（其它元素分析，可配置）
• 元素检出限
备注：元素分析时间300秒，检出限与样品基体有关，本检出限是以水基体下测得元素 F Na\Mg Al\Si P\S\Cl K-Zn 检出限（%） 0.15 0.005 0.001 0.0002 0.0003
• 重复性
• 分析时间：30秒-300秒/样品
• 稳定性
24小时±0.5%，一周内小于±1%;
备注：元素含量或强度相对变化值
- 1. 水泥工业原料（石灰石等）、入窑生料、水泥熟料等元素含量分析；
2. 固体废物中硫氯氟含量同步快速检测；
3. 煤炭工业煤元素成分含量分析；煤热值与灰分含量预测；粉煤灰、煤矸石元素成分分析；
4. 石油化工行业元素含量分析；
5. 土壤主成分（氧化物）与微量元素（P、S、Cl等）含量分析；
6. 钢铁冶炼、有色冶炼行业主量元素与微量杂质元素含量分析；
7. 铝行业元素含量分析；
8. 石灰石主量元素含量分析；
9. 菱镁矿元素与氧化物含量分析，镁砂杂质元素含量分析；
10. 石墨与碳素行业元素含量分析；
11. 锂电池主量元素与微量杂质含量分析；
• 固体废物中硫氯氟含量同步快速测定
• 菱镁矿元素含量检测固废与危废中硫、氯、氟含量是固废处置企业必检项目，当前尚没有操作简单、同步分析的方法技术。单波长X射线荧光光谱仪MERAK-SC通过单色化聚焦激发技术，大幅提升轻元素灵敏度，可以同步分析样品中氟、硫、氯以及主量元素含量。全息基本参数法大幅提升了分析精度和拓宽样品适应性，同时样品处理简单、检测速度快，为固体废物回收和处置提供科学数据支持。
菱镁矿是镁的硅酸盐矿物，是制造含镁耐火材料的主要的天然矿物原料。全世界菱镁矿储量约为120亿吨，其中中国大约为50亿吨，占比十分庞大。菱镁矿的化学成为为MgCO3，其它氧化物CaO、SiO2、Fe2O3、Al2O3等为杂质，当菱镁矿中杂值含量大时，会严重降低其耐火性能，并且会给生产工艺造成困难，因此分析杂质元素含量尤为重要。
• 土壤营养元素含量分析土壤中的主量元素和微量元素影响植物成长，通常需要多种化学分析方法或仪器应对土壤中十几种元素含量分析，样品处理复杂，方法繁琐且效率低下。
单波长X射线荧光光谱法同步检测土壤中钠、镁、铝、硅、磷、硫、氯、钾、钙、锰、铁、锌等主量元素和微量元素含量分析，具有样品处理简单、分析速度快、精度高，成本低等特点，是土壤中营养元素检测的利器。
