欢迎来到北京安科慧生科技有限公司
中文
丨
English
首页
产品中心
解决方案
XRF知识库
技术支持
关于安科
中文
丨
English
首页
产品中心
单波长色散X射线荧光光谱仪系列
低硫分析仪DUBHE-1610
低氯分析仪DUBHE-1710
单波长X射线荧光光谱仪系列
MERAK-SC(F-Zn)
MERAK-ULE(C-Cl)
MERAK-MINI&TINY(便携式S.Cl)
MERAK-CEMII(F-Zn)
MERAK-LEII(Si.P.S.Cl)
高灵敏度X射线荧光光谱仪系列
微区高灵敏度X射线荧光光谱
便携式:PHECDA-ECO&PRO
台式机:PHECDA-HE&HES
双源单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪
双源单波长激发-能量色散X射
手持X射线荧光光谱仪
核心技术
全聚焦型双曲面弯晶(HF DCC)
全息基本参数法
解决方案
石油化工
石化产品金属元素含量分析
现场汽柴油硫含量快速检测
石化产品微量硅硫氯同步测定
成品汽柴油微量硅含量分析
汽柴油微量硫含量分析
石化产品微量氯含量分析
建筑材料
水泥全元素XRF分析
铝电解质中元素和分子比测试
水泥窑协同处置重金属检测
煤灰元素成分分析
环境保护
PM2.5膜无机元素含量分析
环境水质重金属应急监测
固废与危废毒性元素含量检测
土壤全量元素含量分析
土壤碘和溴含量分析
固体废物(硫、氯、氟)元素
土壤环境中重金属含量检测
再生有色工业重金属排放检测
食品安全与中药
化妆品重金属含量分析
食品重金属含量快速检测
中药重金属含量快速检测
婴幼儿配方奶粉矿物质元素快
金属矿石
痕量贵金属含量快速检测
稀土元素含量快速分析
菱镁矿与镁砂中元素含量测定
三元催化剂贵金属含量快速测
矿渣类样品元素含量分析
高纯金属(合金)含量分析
(铜锌铅)精矿元素含量分析
(铜铬镍锰)矿石元素含量检测
工业硅与硅石元素含量分析
材料与锂电池
涂布层面密度测量
NCM(Li)元素含量与混合均匀性
锂电池负极材料元素分析
锂电池SiO与PVDF材料元素含
磷酸铁前驱体Fe、P含量高精
其它
铁矿石类鉴别系统Oreids技术
X射线荧光光谱仪租赁服务
煤炭多组分同步快速分析
公安刑侦技术与食药环方案
XRF知识库
安科慧生文献
单波长激发-能量色散X射线荧
基于单波长色散X射线荧光光
HS XRF铜精矿元素分析
HS XRF快速检测小麦重金属
中药材重金属快速定量
HS XRF与Holospec FP 2.0
XRF方法标准
钢铁有色
建筑材料
食品安全
石油化工
环境保护
XRF理论知识
X射线荧光原理
X射线荧光光谱法原理
单波长X射线荧光光谱仪
基本参数法
X射线荧光光谱元素定量分析
基本参数法(FP)
全息基本参数法
技术支持
XRF样品处理
重质油品(渣油等)样品准备
原油中有机氯和无机氯的分离
土壤样品的XRF前处理方法
汽柴油等轻质油品的样品准备
技术信息
ICP-OES 直接测定焦化馏分
HS XRF®与ICP-OES分析轻质
操作视频
单波长色散X射线荧光光谱仪D
汽柴油等轻质油品的样品准备
水泥样品准备方法
高灵敏度XRF重金属分析仪PHE
高灵敏度X射线荧光光谱仪MER
高灵敏度X射线荧光光谱仪MER
软件下载
MERAK系列仪器驱动程序
MERAK系列仪器最新补丁
DUBHE1610和1710通用固件程序remu
消耗品订货
DUBHE系列订货清单
MERAK-LE系列订货清单
关于安科慧生
安科慧生介绍
应用领域
最新动态
诚邀人才
联系方式
XRF知识库
THE XRF REPOSITORY
安科慧生文献
单波长激发-能量色散X射线荧光光谱法测定含铁物料中多种微量及痕量有害元素
基于单波长色散X射线荧光光谱的煤炭 干基高位发热量快速测定方法的研究
HS XRF铜精矿元素分析
HS XRF快速检测小麦重金属
中药材重金属快速定量
HS XRF与Holospec FP 2.0 民族药重金属分析
食品:HS XRF蔬菜重金属检测
食品砷镉铅含量快速测定
HS XRF水泥工业全元素分析
中药:黄精根茎重金属含量检测
XRF方法标准
钢铁有色
建筑材料
食品安全
石油化工
环境保护
XRF理论知识
X射线荧光原理
X射线荧光光谱法原理
单波长X射线荧光光谱仪
基本参数法
X射线荧光光谱元素定量分析
基本参数法(FP)
全息基本参数法
您的位置:
首页
>
XRF知识库
> XRF理论知识
X射线荧光原理
2022-05-30 16:28:52
一、X
射线的起源
1895年德国物理学家威廉·康拉德·伦琴研究阴极射线管时,发现阴极能放出一种有穿透力的、肉眼看不见的射线。由于它的本质在当时是一个“未知数”,故称之为X射线。
伦琴无条件地把X射线的发现奉献给人类,没有申请专利。
X射线和可见光一样属于电磁辐射,但其波长比可见光短得多,在10-6~10nm。在X射线光谱法常 用波长在0.01~2.5nm。
1895-1897年伦琴搞清楚了X射线的产生、传播、穿透力等大部分性质,为X射线荧光分析方法奠定了基础,1901年诺贝尔奖第一次颁发,伦琴就由于发现X射线而获得了这一年的物理学奖。
二、X射线的本质
X射线的本质是电磁辐射,具有波粒二像性。
(1)波动性
X射线的波长范围:0.01~100 Å
用于元素分析的X射线光谱所使用的波长范围在0.01~11nm
(2)粒子性
特征表现为以光子形式辐射和吸收时具有的一定的质量、能量和动量。
表现形式为在与物质相互作用时交换能量。如光电效应、荧光辐射等。
三、X射线的产生
高速运动的电子与物体碰撞时,发生能量转换,电子的运动受阻失去动能,其中一小部分(1%左右)能量转变为X射线,而绝大部分(99%左右)能量转变成热能使物体温度升高。
产生X射线源有同位素放射源、X射线管、激光等离子体、同步辐射和X射线激光等。
四、X
射线与物质的相互作用
主要概括为四种类型:因光电效应产生的X射线荧光、康普顿散射、瑞利散射和吸收。
(1)X射线荧光的产生
当一束粒子如X射线光子与一种物质的原子相互作用时,在其能量大于原子某一轨道电子的结合能时,就可从中逐出一个轨道电子而出现一个“空穴”,层中的这个“空穴”可称作空位。原子要恢复到原来的稳定状态,这时处于较高能级的电子将依据一定的规则跃迁而填补该“空穴”,这一过程将使整个原子的能量降低,因此可以自发进行。这种跃迁将导致如下几种情况产生:
①
两个壳层之间的能量差以X射线光子的形式发射出原子,该X射线光子的波长与原子的原子序数有关,且其波长大于入射X射线波长,称作X射线荧光。
②
所产生的X射线荧光没有发射出原子,而是将原子中另一电子逐出原子,形成具有双空穴的原子,这一电子称作俄歇电子。
早期人们在用X射线在轰击阳极靶而产生X射线的时候,就发现,有几个高强度X射线,并没有随着加速电子的高压变化而变化,而是在使用不同的靶材之时,其X射线能量会发生变化,后称之为特征X射线,每种元素都有他特有的特征X射线。以W原子为例,核外电子壳层能级、每个壳层电子数及发射La1、Ka1和Ma1特征谱线如下图。
莫塞莱发现了X射线能量和原子序数的关系,公式为 。这个公式被称为莫塞莱公式。莫塞来定律为X射线光谱定性分析奠定了基础,表明X射线的特征谱给人们提供了一种识别新元素的可靠方法——X射线分析法。
(2))X射线在物质中的散射
X射线在物质中的散射现象,可主要分为两种形式:
①
不变质散射(弹性散射,瑞利散射),入射X射线波长不发生变化;
②
变质散射(非弹性,康普顿散射),入射X射线波长发生变化。
原子周围的核外电子,越内层电子与原子核结合的越紧密。光子与内层电子发生碰撞,无法撞动内层电子,固本身的频率波长没有发生变化,称为瑞利散射。光子与外层电子发生碰撞,电子被撞动,光子波长频率发生改变,称为康普顿散射。
五、荧光产额
当一束能量足够大的X射线光子与一种物质的原子相互作用时,逐出一个轨道电子而出现一个空穴,所产生的的空穴并非均能产生特征X射线,还会产生俄歇电子。产生特征X射线跃迁的概率就是荧光产额,俄歇跃迁的概率成俄歇产额。
六、X
射线荧光光谱法
X射线荧光光谱法正是基于以上物理学原理而产生的,从X射线管产生X射线,X射线经过滤或单色化处理入射样品,入射样品X射线与物质相互作用,产生的元素特征X射线荧光,进入探测器记录其强度,能量色散型探测器的各种效应。都有可以遵循的X射线荧光的物理学理论,而这些明确的物理学理论,有大量的规律可循,进而可以建立理论数据库,譬如基本参数库等,也可以将明确的物理学现象数学模型化,利用软件技术,形成针对X射线荧光整个物理过程强大的计算软件。
这也是当前X射线荧光领域研究的热点:基本参数法。
立即下载
返回主页